磁性薄膜电磁参数测试技术

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篇1：磁性薄膜电磁参数测试技术

磁性薄膜电磁参数测试技术

扼要介绍了近国内外在磁性薄膜材料电磁参数测试方法的概况及技术特点,这些方法主要包括带状线法、微带线法、波导法及共面波导法、终端阻抗及短路法和谐振腔法.

作 者：陈雪飞 郭高凤 周扬 李恩  作者单位：电子科技大学电子工程学院,成都,611731 刊 名：宇航材料工艺  ISTIC PKU英文刊名：AEROSPACE MATERIALS & TECHNOLOGY 年，卷(期)： 40(2) 分类号：V2 关键词：磁性薄膜   电磁参数   网络参数法   谐振腔法   Magnetic thin film   Electromagnetic parameters   Network parameter method   Resonant cavity method  

篇2：透射光谱法测试薄膜的光学参数

透射光谱法测试薄膜的光学参数

推导了使用透射光谱极值法来确定薄膜光学参数的理论公式,并对溶胶-凝胶法制作的掺不同浓度二氧化锡的二氧化硅薄膜的折射率和厚度进行了计算.由于透射光谱法来确定薄膜的光学参数时需要其有一定的厚度来形成干涉峰,而用溶胶凝胶浸渍法单次提拉的薄膜厚度太薄,因此用多次提拉的方法来增加厚度.最后借助于柯西色散公式,在其它波段对折射率进行了拟合.结果表明,薄膜的`折射率随着二氧化锡含量的增加而增加,相同提拉次数的薄膜厚度也基本相同.

作 者：顾晓明 贾宏志 王铿 朱一 GU Xiaoming JIA Hongzhi WANG Keng ZHU Yi  作者单位：上海理工大学,光电信息与计算机工程学院,上海,93 刊 名：光学仪器  ISTIC英文刊名：OPTICAL INSTRUMENTS 年，卷(期)： 31(2) 分类号：O484.5 关键词：透射光谱   薄膜   光学参数   折射率  

篇3：用表面磁光克尔原理测量薄膜材料的磁性参数

用表面磁光克尔原理测量薄膜材料的磁性参数

以表面磁光克尔原理为机理,测量薄膜材料的磁性参数,实验上求得了饱和状态下坡莫合金的克尔偏转角,并测出了其磁滞回线.

作 者：祁建霞 QI Jian-xia  作者单位：西安邮电学院,应用数学与应用物理系,陕西,西安,710121 刊 名：大学物理  PKU英文刊名：COLLEGE PHYSICS 年，卷(期)：2009 28(9) 分类号：O441.6 关键词：表面磁光克尔效应   磁滞回线   克尔旋转角  

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