用光谱法测试相位光栅层的厚度

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篇1：用光谱法测试相位光栅层的厚度

用光谱法测试相位光栅层的厚度

按傅里叶光学,当平面波通过光栅时,不同级次的衍射角和强度由光栅而定,根据光栅的.衍射频谱可以反推出光栅本身的多种信息.一个新的方法就是选用不同级次的功率谱来测量相位光栅的深度.对3块光栅进行了测试,并给出计算的光栅深度.同时给出6块光栅的测试结果--多级衍射强度,结果表明误差值不大于5%.

作 者：曹向群 连华 李何立  作者单位：浙江大学国家光学仪器工程技术研究中心,杭州,3l0027 刊 名：中国激光  ISTIC EI PKU英文刊名：CHINESE JOURNAL OF LASERS 年，卷(期)： 31(z1) 分类号：O438.2 关键词：相位光栅   测试   衍射谱  

篇2：衍射频谱法测光栅膜层厚度

衍射频谱法测光栅膜层厚度

根据傅立叶光学理论从光栅的.衍射频谱中可以反推光栅本身的多种信息,包括其形貌特征.利用矩形相位光栅的傅立叶变换,推导出零级和一级衍射光强和矩形相位光栅膜层厚度之间的函数关系,据此可在测得零级和一级次光强后,推算出光栅膜层厚度.以台阶仪作为标准,该方法的测量误差在4%以内.

作 者：李何立 文学金 曹向群 林斌  作者单位：光学仪器国家重点实验室,国家光学仪器工程中心,浙江大学,浙江,杭州,310027 刊 名：光电工程  ISTIC PKU英文刊名：OPTO-ELECTRONIC ENGINEERING 年，卷(期)：2004 31(5) 分类号：O438.2 O484.5 关键词：膜厚测量   相位光栅   傅立叶光学   衍射频谱  

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